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透射電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope)

詳細摘要：廠商：美國FEI公司型號：TecnaiF20到貨日期：2007年9月技術指標：加速電壓：200kV電子槍：熱場發射電子源，能量分辨率0.7eV
產品型號：所在地：更新時間：2022-11-23 在線留言
洛倫茲透射電子顯微鏡（JEM-2100F）

詳細摘要：廠商：日本電子株式會社型號：JEM-2100F（特制）到貨日期：2013-3-5主要儀器參數：●電子光源：200KV場發射●極限分辨率：0.45nm●磁場范圍：...
產品型號：所在地：更新時間：2022-11-23 在線留言
場發射掃描電子顯微鏡（熱場）(Field Emission Scanning Electron Microscope)

詳細摘要：廠商：美國FEI型號：FEIQUANTA250FEG到貨日期：2011年3月主要參數：1）高真空1.0nm30kV（SE）
產品型號：所在地：更新時間：2022-11-23 在線留言
Verios G4 UC熱場發射掃描電子顯微鏡

詳細摘要：生產廠商：美國ThermoSicentifc型號：VeriosG4UC投用時間：2018年9月主要功能：掃描電子顯微鏡依據電子與物質的相互作用，利用聚焦的高能電...
產品型號：所在地：更新時間：2022-11-23 在線留言